测厚仪
产 品 说 明
45MG超声测厚仪
45MG是一款配备有标准测量功能和软件选项的超声测厚仪。这款仪器与奥林巴斯的双晶和单晶测厚探头相兼容,是一款集多种解决方案于一机的仪器,可用于几乎所有测厚应用。
提供基本配置的45MG仪器是一款简单易学的测厚仪,操作人员只需少量的培训,就可以处理大多数常见的测厚应用。不过,添加了可选购软件选项和探头之后的45MG仪器,就会变成一款功能全面的测厚仪,可以进行典型的初级仪器不能完成的应用。此外,大多数选项可以在购买仪器时分别购买,或在日后需要时购买。
只需几次按键,即可完成从简单的腐蚀测厚仪到多功能准确测厚仪的华丽变身。45MG测厚仪提供5个需密码激活的软件选项,从而跻身于工业领域中用途广泛的测厚仪行列。
测量 | 双晶探头测量模式 | 从激励脉冲后的准确延迟到第 一个回波之间的时间间隔 |
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回波到回波(可选) | 在两个连续底面回波之间的时间间隔,不计漆层或涂层的厚度 | |
穿透涂层测量(可选) | 利用单个底面回波,测量金属的实际厚度和涂层厚度(使用D7906-SM、D7906-RM和D7908探头) | |
单晶探头测量模式(可选) |
模式1:激励脉冲与第 一个底面回波之间的时间间隔 模式2:延迟块回波与第 一个底面回波之间的时间间隔(使用延迟块或水浸式探头) 模式3:在激励脉冲之后,位于第 一个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔(使用延迟块探头或水浸式探头) |
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厚度范围 | 0.080 mm ~ 635 mm,视材料、探头、表面条件、温度和所选配置而定(要测量整个厚度范围需要使用单晶选项) | |
材料声速范围 | 0.508 mm/μs ~ 18.699 mm/μs | |
分辨率(可选) |
低分辨率:0.1 mm 标准分辨率:0.01 mm 单晶选项:0.001 mm |
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探头频率范围 | 标准:2.25 MHz ~ 30 MHz(-3 dB);高穿透(单晶选项):0.50 MHz ~ 30 MHz(-3 dB) | |
一般规格 | 操作温度范围 | -10 °C ~ 50 °C |
键区 | 密封、以色彩区分功能的键区,带有触感及声音反馈 | |
机壳 | 防撞击、防水、装有密封垫的机壳,机壳上的接口密封。 设计符合IP67标准。 | |
外型尺寸(宽 × 高 × 厚) | 总体尺寸:91.1 mm × 162 mm × 41.1 mm | |
重量 | 430.9克 | |
电源供应 | 3节AA电池 / USB电源供应 | |
电池供电时间 |
3节AA碱性电池:20 ~ 21小时 3节AA镍氢电池:22 ~ 23小时 AA锂电池:35 ~ 36小时 |
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标准 | 设计符合EN15317标准 | |
显示 | 彩色透反QVGA显示 | 液晶显示,显示屏尺寸:54.61毫米 × 41.15毫米 |
检波 | 全波、射频波、正半波、负半波(波形选项) | |
输入/输出 | USB | 2.0客户端 |
存储卡 | Z大容量:2 GB可插拔microSD存储卡 | |
内置数据记录器(可选) | 数据记录器 | 45MG通过USB或microSD卡识别、存储、调用、清除及传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。 |
容量 | 475000个厚度测量读数,或20000个带厚度值的波形 | |
文件名、ID编码和注释 | 不超过32个字符的文件名,不超过20个字符的字母数字位码,每个位有4个注释。 | |
文件结构 | 6个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构 | |
报告 | 机载报告,总结了数据统计和Z小值/Z大值 |